Sospensioni colloidali.
Nanoparticelle: misurazione in tempo reale
In molti settori cresce la necessità di misurare le dispersioni in tempo reale durante i processi produttivi, così da ottenere un’eccellente garanzia della qualità sia del processo di produzione sia del prodotto finale. La tecnologia più avanzata proposta da Colloid Metrix e Microtrac consente di misurare dimensioni, distribuzione del potenziale zeta e concentrazione di particelle in un’ampia gamma di intervalli di dimensioni, concentrazione e conducibilità, offrendo la giusta risposta alle esigenze delle aziende che operano nei settori più disparati.
> Scopri di più sulle applicazioni di Microtrac e Colloid Metrix
Stabino® Stability Analysis System
In molte applicazioni, la carica e le dimensioni delle particelle caratterizzano il comportamento di una dispersione. Il sistema Stabino® offre un’elevata flessibilità. Applicabile ai colloidi con dimensioni particellare tra sub-nm e 100 μm, consente misurazioni di concentrazioni fino al 40%.
Nanotrac Flex In-situ Analyzer
Grazie alla tecnologia Dynamic Light Scattering (DLS) di Microtrac, è lo strumento ideale per misurare particelle in ampi intervalli di concentrazione utilizzando un volume di campione minimo. Ciò che lo caratterizza è l’esclusiva tecnologia della sonda esterna, che utilizza un segnale ottico potenziato in grado di produrre misurazioni veloci, accurate e sensibili in-situ o in laboratorio delle dimensioni delle particelle di materiali che vanno da ppm a prodotti quasi finiti.
Nanotrac WAVE II
Analizzatore di dimensione e potenziale zeta molto accurato, ideale per caratterizzare i materiali in un ampio intervallo di concentrazione. Utilizzando Reference Beating, che amplifica il segnale di ritorno al fotorivelatore, offre un’accuratezza senza precedenti per misurare le dimensioni delle particelle, il potenziale zeta, il peso molecolare e la concentrazione dei sistemi colloidali. Sfruttando un segnale ottico avanzato, una tecnologia innovativa per la sonda e algoritmi avanzati offre all’utente una capacità di analisi delle particelle di livello superiore per materiali che vanno dal sub-nanometro a diversi micron.
